随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题.测试的理论与技术已经成为VLSI（超大规模集成电路）领域中的一个重要研究方向.本次课程较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点、测试的策略、集成电路面临的挑战及测试技术发展趋势。

夏克金（博士，日本） SEMI(国际半导体设备与材料行业协会)中国技术委员会委。从事半导体集成电路和电路板测试行业20多年，曾担任安捷伦科技公司中国区技术支持经理，惠瑞捷中国公司总经理，中国爱德万测试策略企划部经理。